PCT高压老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。

 

　　用途：

　　设备目前适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验。

 

　　规范要求：

　　PCT高压老化试验箱内胆采用圆弧设计，复合国家安全容器标准，可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

　　配备双层不锈钢产品架，也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。

 

　　PCT高压老化试验箱的结构特点：

　　1、采用进口耐高温电磁阀双路结构，在较大程度上降低了使用故障率；

　　2、独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏；

　　3、门锁省力结构，解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点；

　　4、试验前排冷空气；试验中排冷空气设计（试验桶内空气排出）提高压力稳定性；       

　　5、超长效实验运转时间，长时间实验机台运转1000小时；

　　6、水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护；

　　7、二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置；

　　8、安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮。